NI SMU - 电性能测试的最佳选择

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。

美国国家仪器(National Instruments, NI)为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。

满足多种仪器功能,提供高精度测试需求

分辨率:100 fA 或 100 nV

取样率:1.8 MS/s

性能:整合高精度供电电源、数字万用表,单一通道同时控制与量测电压、电流

优势:提高量测精度,降低硬件成本。不需复杂接线,透过高速采样率与可程控电源供电,提供相当于示波器、信号发生器、脉冲发生器与电子负载等功能

  • Pulse or D
  • Pulse only, maximum pulse on time 1ms, maximum duty cycle 5%
  • Pulse only, maximum on time 400 us, maximum duty cycle 2%

系统级SMU – 多信道同步、易扩充

传统SMU测试系统,需透过仪器控制才能由PC控制,同步效果不佳、不俱可扩展性和灵活性。NI SMU 使用 PXI 平台,利用 PXI 高速传输低延迟的特性,提升10 倍传输速率。透过PXI 背板与模块达到通道间、机箱间的同步,系统规划扩充方便。

独特负载响应控制 – 优化DUT测试

NI SMU提供10 μs反应速度,搭配NI SourceAdpat Technology专利技术,可针对特定负载提供定制化调制,优化DUT测试。

产品调研

使用PXI源测量单元

源测量单元(SMU)是实验室特性分析和自动化测试应用中,用于分析设备电流-电压(I-V)特性的主要仪器。 PXI SMU可为您的系统提供高功率、高精度且高速的源测量功能,助您解决各种应用需求。

测量速度比台式SMU快50倍(高达1.8 MS/s)

在小巧的空间中提供四个通道

10 fA测量灵敏度

使用NI PXI源测量单元,实现更智能的测试