收藏本页 | 随便看看
关闭
关闭

关键词搜索

特别活动

VirtualBench第二代多功能一体式仪器震撼上市
抢先了解>>
LabVIEW最新版本发布,供您选择>>
立即体验>>

联系我们

  • 地址:上海浦东张江集电港二期张东路1387号第45幢
  • 邮编:201203
  • 电话:021-50509800 800-820-3622
  • 传真:021-65556244
  • 网址:http://china.ni.com/
  • Email:china.info@ni.com
射频集成电路(RFIC)测试

功率放大器(PA) – 作为分立元件或集成前端模块(FEM)的一部分 – 是现代无线电中最完整的RF集成电路(RFIC)之一。 本系列教程由两部分组成,通过交互式白皮书以及多个演示视频,介绍了RF PA和FEM测试的基础知识。

  系列1:功率放大器和前端模块测量的基础知识
  系列2:在数字预失真和动态电源条件下测试PA

热点推荐
  射频功放(PA)高级测试解决方案   射频与微波测试参考海报
  下一代无线通信(5G)技术集锦

测试系统构建完整指南

测试策略对于降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率至关重要。阅读测试执行维护、软硬件抽象层、热分析和开关等方面的最佳实践,确保您掌握构建更智能测试系统所需的基础知识,以便满足当今和未来的各种需求。通过本完整指南,了解从头到尾构建完整测试系统的推荐过程。 >> 立即下载完整指南

热点推荐
  总体拥有成本(TCO)模型计算   仪器选择
  自动化测试系统供电设施   开关和多路复用
  测试执行软件   硬件和测量抽象层
  机架布局和热分析   大型互连系统和连接件
  软件部署   测试系统维护

自动化测试趋势展望2018之智能测试趋势指南

从5G技术的首次推出到自动驾驶汽车的加速发展,企业需要更智能的测试策略来保持竞争优势。本趋势包含确保测试系统的安全、高效测试团队的秘密、自动驾驶汽车的传感器融合测试、对测试实验室标准化、先于标准进行测试、封装技术创新对测试的影响。 >> 立即下载

热点推荐
  进入官网了解测试趋势展望    下一代无线通信(5G)技术集锦 FF1A

NI SMU - 电性能测试的最佳选择

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。 >> 进入了解详情

热点推荐
  电性能测试的最佳选择-NI SMU简介    淘汰传统台式仪器 - PXI SMU 优惠方案
  NI源测量单元(SMU)和可编程电源资源包

更多信息